SISTEMA INTEGRAL DE INFORMACIÓN ACADÉMICA - PÚBLICO
Reflectancia interna de luz difusa para el monitoreo de procesos en superficie y películas delgadas
Sinodales: ALEJANDRO REYES CORONADO;
JESUS GARDUÑO MEJIA;
AUGUSTO GARCIA VALENZUELA;
Autores: Osorio Tascón, Juan CamiloTipo de tesis: Tesis de MaestríaEntidad presentadora de examen profesional: Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo TecnológicoEntidades por adscripción en la UNAM:
Facultad de Ciencias; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología;