Reconocimiento de patrones en imagenes caracterizadas en lineas o bordes

Sinodales:
LARRY HIPOLITO ESCOBAR SALGUERO;
Autores:
Murillo Quintero, Jaime Héctor
Tipo de tesis:
Tesis de Licenciatura
Entidad presentadora de examen profesional:
Facultad de Ingeniería
Entidades por adscripción en la UNAM: